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自动卷边投影仪芯片解密案例

  芯伟科技专业提供芯片解密技术、样机制作与测试、IC反向研究等服务,长期提供电子产品的二次开发,提供完整的芯片解密方案,帮助企业在最短的时间内将技术转化为产品,实现最大的经济效益。自动卷边投影仪是芯伟在该领域的又一成功案例,具体数据如下:
  优点:
  1.每次测量可自动保存测量结果到Excell电子表格,方便统计和生成报表;
  2.每次测量可以自动判断和警告测量结果是否合格;
  3.测量数据和标注线直接标注在卷边图像,测量数据同时显示在屏幕下方相应字段位置;
  4.可以保存和打印卷边图像和数据,方便与生产部门或制罐厂沟通,无需保留样罐;
  5.提供校准块,用户随时可校准仪器;
  6.使用固态单色光源,比同类产品更耐用;
  技术参数:
  精度: ± 0.01 mm
  放大倍数:60×
  电源: 115 / 230V
  数据接口: RS 232 C
  语言: 中文/英文
  尺寸: 570 x 470 x 530 mm(W x D x H)
  重量: 20 kg
  仪器配置:
  1)VSM6A自动卷边投影仪(内含光学摄像系统和图像处理系统,计算机配置80GB硬盘/512MB内存/17”液晶显示器)
  2)VSM卷边检测软件
  3)校准块2mm
  作为多年丰富经验的芯片解密技术单位,芯伟科技通过芯片解密方案与IC反向研究开发工程掌握自动卷边投影仪技术资料,可长期提供该系列的产品开发服务。